AOI 光學(xué)檢測(cè)儀 德侓  TR7700 SII
 

產(chǎn)品：AOI光學(xué)檢測(cè)儀

型號(hào)：TR7700 SII

產(chǎn)地：臺(tái)灣

設(shè)備所在地：東莞

價(jià)格：面議（可租可售，價(jià)格優(yōu)惠）

特點(diǎn)：

配備4MP大尺寸彩色相機(jī)，在 15 μm分辨率下檢測(cè)速度可高達(dá)120 cm2/sec。TR7700 SII 在線型自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)機(jī)使用動(dòng)態(tài)影像檢測(cè)技術(shù)，提供更輕巧、快速且經(jīng)濟(jì)的爐前/爐后檢測(cè)解決方案。 TR7700 SII具備***及高彈性的RGB+W彩色光源系統(tǒng)，獨(dú)特的超低角度光源設(shè)計(jì)可提供極性及黑色元器件更好的檢測(cè)方案，并可針對(duì)無鉛與傳統(tǒng)組裝電路板之微小元件01005提供更精準(zhǔn)穩(wěn)定的檢測(cè)能力。 

特性：

市面上速度快的在線型彩色自動(dòng)光學(xué)檢測(cè) 

 大尺寸彩色相機(jī)可測(cè)微小元件01005 

 較小的落地面積以提升廠房空間使用效率

規(guī)格：

  相機(jī)類型   4 MP 彩色相機(jī)  

 光學(xué)分辨率   10 μm 或 15 μm  

 取像方式   高速動(dòng)態(tài)取像 

 檢測(cè)速度   60 cm2/sec @ 10 μm  120 cm2/sec @ 15 μm

 檢測(cè)項(xiàng)目

 本體缺陷   缺件、立碑、側(cè)立、極反、偏移、錯(cuò)件、反件、損件等 

 焊點(diǎn)缺陷   多錫、少錫、橋接、DIP類元件吃錫、IC翹腳、金手指表面刮傷粘錫缺損 

 爐前 / 爐后整合   良率管理系統(tǒng)

 電路板尺寸

 電路板可測(cè)尺寸   50 x 50 – 510 x 460 mm 

 電路板可測(cè)厚度   0.6 – 5 mm 

 電路板重量   5kg